仪器名称：X射线粉晶衍射仪
仪器型号：X’Pert PRO
规格：X’Pert PRO
购置日期：2005年1月
生产厂家：荷兰 新加坡思百吉公司
金额：$194,000.00
主要技术指标：
1. 超能探测器 与传统的正比计数器相比，收谱强度提高50～100倍，从而一个普通的物相分析样品（2θ 3º～65º）只需2～3分钟；由于收集的强度大，因此该衍射仪可进行粉未法结构解析和结构的精修，可进行物相定量分析。
2. 微区衍射 通过微光束聚光器，X光可聚焦成直径0.1～0.5mm的X光光束，而普通的衍射仪的束斑在1×10～5×10mm，这就使50～100um的矿物和材料的物相鉴定成为可能。当代地质学的两大趁势：地球深部物质的研究和环境（地表）物质的研究，这均需要研究微小的矿物，微区衍射为这方面的研究创造了实验平台。
3. 高温衍射 可直接测定矿物和材料常温～1600℃范围内晶体结构的变化。
4. 薄膜样品测定 有三个基本功能：测定薄膜的物相，测定薄膜的厚度，（有多层膜时，可分别测定各层的厚度），薄膜平整度测定。
5. 小角散射 主要用于纳米颗粒的测定，可计算出纳米级粉体材料中小于300nm的颗粒分布值（百分比）。
6. 具有最新版本的JCPDS（粉末衍射标准衍射数据库）、自动检索系统和Rietveld结构精修等软件。
主要应用范围：
X射线粉晶衍射仪是鉴定物相和进行物相定量分析最有效的大型精密仪器。在矿物、岩石、矿床学、地层学、地球化学、油气地质、地质工程学等地质学科的研究工作中是不可缺少的测试设备，它同时它还服务于材料、化学、钢铁、冶金、建材、医药、国防等诸多部门。
1. 地球深部物质的矿物和结构
2. 地球表层环境矿物的种类和演变
3. 纳米材料和薄膜材料的研究
存放地点：地质过程与矿产资源国家重点实验室